【レポート】「GMのハイブリッド技術漏えい事件」の続報 元エンジニアの中国人夫婦に懲役刑
昨年末、GMの元エンジニアの中国人女性とその夫が同社のハイブリッド技術を漏えいした罪に問われ、有罪となった事件を覚えているだろうか。

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このほど、米連邦地裁は本件に対する最終判決を下し、妻のシャンシャン・ドゥ被告に約1年、夫のユー・チンに3年の懲役を言い渡した。

両被告は、妻の元勤務先であるGMから大量のデータファイルを盗み、この機密情報を中国の自動車メーカー数社に売却しようとしたもの。産業スパイの規模としては、量刑の基準となる連邦量刑ガイドラインでも最低6年半の実刑が求められるところだが、本件を担当したマリアン・バッターニ判事は、ドゥ被告が健康を害していること、社会に脅威を与える危険性が低いことを考慮した上で、大幅に量刑を軽減したものとみられる。一方、妻を通じて企業機密を入手した夫のチン被告については、共謀罪、窃盗罪に加え、詐欺罪、司法妨害罪に問われ、妻よりも重い量刑が確定した。

AP通信の報道によれば、バッターニ判事は判決に際し、「両被告が社会に被害をもたらすことは当面ないだろう。しかし、この手の模倣犯に対しては、今後も引き続き厳重な警戒が必要だ」とコメントを添えている。

両被告は罪状を認め、犯した罪に対する反省の弁を述べたという。両被告は今年の夏にも収監される見通しだ。

By Seyth Miersma
翻訳:日本映像翻訳アカデミー

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